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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESD1LIN
LIN-bus ESD protection diode
4 GHz DIGITAL
R Z
450 Ω
RG 223/U
50 Ω coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
C Z
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 Ω
D.U.T.
(Device
Under
Test)
50 Ω
GND
GND
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped + 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped ? 1 kV ESD voltage waveform
GND
GND
GND
GND
vertical scale = 20 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
PESD1LIN (24V)
PESD1LIN (15V)
clamped + 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
PESD1LIN (15V)
PESD1LIN (24V)
vertical scale = 20 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped ? 1 kV ESD voltage waveform
Fig 5.
(IEC 61000-4-2 network)
ESD clamping test setup and waveforms
(IEC 61000-4-2 network)
006aaa166
PESD1LIN
Product data sheet
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Rev. 3 — 31 May 2011
? NXP B.V. 2011. All rights reserved.
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